實(shí)驗(yàn)行星球磨機(jī)粉體材料粒度的檢測(cè)可采用篩分法、沉降法、電阻法、激光法、電鏡法等多種方法。其每種方法都有各自的特點(diǎn)，檢測(cè)結(jié)果也可能會(huì)有差異。對(duì)于粒度較細(xì)或比重較小的顆粒，采用后三種方法的檢測(cè)結(jié)果比較好。例如，加工粒徑約為15~20μm的產(chǎn)品，使用這幾種儀器測(cè)量結(jié)果雖有差異，但相差不是很大。如果用沉降法測(cè)量，則可能會(huì)產(chǎn)生較大的測(cè)量誤差。  
　　顆粒群體通常由大量大小不同的顆粒組成。按粒徑大小分為若干級(jí)數(shù)，表示出每個(gè)級(jí)數(shù)顆粒的相對(duì)含量，稱為微分分布；表示出小于某個(gè)數(shù)顆粒的總含量，稱為累積分布。  
　　行星球磨粒徑是粒度分布曲線中顆粒的等效直徑。平均粒徑是粒度分布曲線中累積分布為50%時(shí)的較大顆粒的等效直徑。D90粒徑、D95粒徑、D98粒徑分別是分布曲線中累積分布為90%、95%、98%時(shí)的顆粒的等效直徑。  
　　根據(jù)實(shí)驗(yàn)行星球磨機(jī)研磨粒度分布曲線可以看出：如果以較大粒徑來衡量粉體的等級(jí)，可標(biāo)為16μm或800目通過。如果以D90粒徑（或“90%通過粒度”）來表示，粉體的等級(jí)可上升到6μm或2000目。如果以D50粒徑（或“平均粒徑”、“中位徑”）來表示，粉體的等級(jí)便會(huì)躍升到可到2.8μm或4500目。由此可見，選擇不同的積累分布數(shù)據(jù)來表示粒度指標(biāo)，會(huì)得到差異很大的不同概念。    
　　由此得知，如想知道實(shí)驗(yàn)行星球磨機(jī)球磨的某一種超細(xì)粉是否到幾千目或是一兩萬目的細(xì)度，就要認(rèn)真了解是小樣試驗(yàn)還是成批生產(chǎn)隨機(jī)抽樣，用什么方法檢測(cè)，要了解是在哪個(gè)積累分布取得的粒度數(shù)據(jù)，才能了解這批粉體材料的準(zhǔn)確質(zhì)量指標(biāo)。